特殊应用的探针
多种专用探针可以用来测量多类元素诸如：螺纹体，波峰焊治具企业，薄截面材料，工具箱以及其他专业应用。圆柱探针用于探测薄壁材料的孔。
此外，各种带螺纹的元素可以被探测，探针好用吗？，螺纹中心被定位。球端圆柱探针允许多角度采集数据和在X，Y，探针哪里有？，Z三个方向探测，这样可以进行表面检测。
尖探针和陶瓷中空球状探针
设计尖状探针是为了检测螺纹体，波峰焊治具，特殊的点和划线。圆端尖探针允许更准确的测量和特征元素的探测。可以用于更小的孔的检测。陶瓷材料的中空球状探针对于探测X，Y和Z三个方向比较深的元素和钻孔都是理想的。仅需要一个探测杆。在这个范围有两型号是直径18 mm和30 mm。这些探针通常被设计与TP2/TP20/TP200和TP6来配合使用。大直径球的探测可减小粗糙表面的影响。
焊治具焊接时在焊点之间发生桥连和短路的可能性也因此有所增加。但已有了一些行之有效的方法可用来解决这种问题，其中一种方法是采用风刀技术。这是在PCB离开波峰时用一个风刀向熔化的焊点吹出一束热空气或氮气，这种和PCB一样宽的风刀可以在整个PCB宽度上进行完全质量检查，消除桥连或短路并减少运行成本。还有可能发生的其它缺陷包括虚焊或漏焊，也称为开路，如果助焊剂没有涂在PCB上时就会形成。
电子探针仪与扫描电子显微镜异同
二者主要的不同是其工作肌理不同。
电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM），它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变化进行处理后，可以得到表面的形貌像，这是其中的一个工作方式，还有针尖位置不变，电压变化的工作方式等。另外STM发展的非常蓬勃，波峰焊治具厂，衍生出很多其他类似的分支电镜，如AFM等。
扫描电子显微镜（scanning electron microscopy，SEM)，是通过电子束对样品表面进行反复的扫射，通过探头收集反射回来的二次电子和背散射电子来进行成像。
二者相同的地方则是主要用作测样品表面形貌的仪器
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